蓋世汽車訊 據(jù)外媒報(bào)道，桑迪亞國(guó)家實(shí)驗(yàn)室（Sandia National Laboratories）和奧本大學(xué)（Auburn University）的研究人員開(kāi)發(fā)出新方法，可以更精確地檢測(cè)電子材料中的原子級(jí)缺陷。這項(xiàng)進(jìn)展有望改進(jìn)從電動(dòng)汽車到高功率電子產(chǎn)品等多種技術(shù)。該研究發(fā)表于期刊《Journal of Applied Physics》，解決了長(zhǎng)期以來(lái)在探究半導(dǎo)體與絕緣層臨界邊發(fā)生的現(xiàn)象方面存在的挑戰(zhàn)。
圖片來(lái)源：期刊《Journal of Applied Physics》
在這個(gè)界面處，微觀缺陷會(huì)捕獲電荷并悄無(wú)聲息地降低器件性能，即使器件表面上看起來(lái)運(yùn)行正常。這些缺陷會(huì)限制效率、增加電損耗，并降低先進(jìn)半導(dǎo)體器件的性能。
來(lái)源：第一電動(dòng)網(wǎng)
作者：蓋世汽車
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